Oh S.S., Jo W., Cheong H., Kim G., Park D.Y., Ha H.-.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, co-evaporation process, Raman spectroscopy, IBAD process, thickness dependence, critical current, microstructure, critical caracteristics
IEEE Transactions Applied Superconductivity, 2011, v.21, N 3, p.3352-3355
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.